Aujourd'hui les systèmes embarqués sont partout et requièrent de plus en plus de puissance de calcul. Pour cela, ces dernières années, les progrès d'intégration ont permis de diminuer la taille des transistors, d'augmenter la fréquence de fonctionnement et de diminuer la tension d'alimentation. Tout cela en augmentant progressivement le nombre de processeurs dans une même puce. Cependant, cette évolution a un impact négatif sur la fiabilité en causant l'apparition prématurée de fautes intermittentes. Néanmoins, concernant ce type de fautes nous ne bénéficions pas d'études expérimentales détaillées. Or, pour tenter de s'en prémunir, il est important de comprendre leur comportement ainsi que leur impact sur le système et les applications. Notre étude confirme qu'il est possible d'observer des erreurs intermittentes très tôt avant la période d'usure du circuit. Il est donc possible de les détecter en ligne. Pour cela, nous avons développé une méthode de test périodique adaptée à la fois aux erreurs intermittentes et aux architectures multiprocesseur.
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