Les travaux présentés dans ce manuscrit sont axés sur le développement d'une nouvelle technique de caractérisation basée sur la variation de la réponse d'un résonateur, réponse modifiée par les propriétés diélectriques d'un matériau sous test. La technique proposée utilise la microscopie microonde en champ proche pour la caractérisation résonante et non destructive de matériaux diélectriques dans la bande ISM (2,45 GHz). Celle-ci permet de déterminer les propriétés électromagnétiques (permittivité relative, tangente de pertes) des échantillons diélectriques solides de faible volume par rapport à la longueur d'onde de mesure, et cela sans aucun traitement préalable. La connaissance de ces paramètres est essentielle pour fournir des informations critiques nécessaires pour la conception, la modélisation et la fabrication de circuits microondes.
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