Cet ouvrage collectif présente un état des lieux des différents aspects de l'étude de la matière condensée au moyen de l'analyse de son interaction avec les rayons X. Il fait suite au colloque Rayons X et Matière - RX 2007 et rassemble les contributions de spécialistes présentant leur discipline de manière pédagogique. Les domaines scientifiques étudiés portent sur :
L'utilisation des faisceaux sub-micrométriques de rayons X pour la réalisation de mesures de diffusion et de diffraction sur des matériaux nanostructurés, la combinaison de la diffraction des rayons X et de la microscopie électronique pour déterminer la structure de composés complexes, l'utilisation de dispositif de lévitation pour analyser des oxydes à l'état liquide à très haute température, et la diffraction haute résolution avec des faisceaux cohérents pour caractériser des nanostructures épitaxiées.
Enfin, le dernier chapitre propose un regard sur notre monde où le lecteur observe ce qui l'entoure en analysant l'ensemble du spectre électromagnétique.
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